Mitgliedsbeitrag: National Instruments Germany GmbH
15.02.2010
National Instruments bringt optimierte modulare Messgeräte auf PXI-Express-Basis für RF-Messungen bis 6,6 GHz auf den Markt
Pressemitteilung, 25. Januar 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) bringt zwei neue modulare RF-Messgeräte auf PXI-Express-Basis für automatisierte Wireless-Tests auf den Markt. Der Vektorsignala...
Pressemitteilung, 25. Januar 2010 – National Instruments (Nasdaq: NATI) bringt zwei neue modulare RF-Messgeräte auf PXI-Express-Basis für automatisierte Wireless-Tests auf den Markt. Der Vektorsignalanalysator (VSA) NI PXIe-5663E für Signale bis 6,6 GHz und der Vektorsignalgenerator (VSG) NI PXIe-5673E, ebenfalls für Signale bis 6,6 GHz, verkürzen automatisierte Prüfabläufe für Geräte mit modernen Wireless-Standards wie Wireless Local Area Network (WLAN), WiMAX und GSM/EDGE/WCDMA erheblich. Der neue RF List Mode dieser Messgeräte bietet deterministische Funktionalität zur Sequenzierung von Leistung und Frequenz, so dass Änderungen an den RF-Konfigurationsparametern während eines Tests schneller vorgenommen werden können. Darüber hinaus erhöht der neue Modus für hohe Schleifenbandbreite die Messgeschwindigkeit, indem die Einschwingzeiten lokaler Oszillatoren auf 300 Mikrosekunden oder noch weniger reduziert werden.
„Die neuen RF-Messgeräte zeigen unser Engagement, Testzeiten zu verkürzen und Prüfingenieuren damit Kosteneinsparungen zu ermöglichen“, so Eric Starkloff, Vice President of Test Product Marketing bei National Instruments. „Die optimierte Leistung der erweiterten RF-Messgeräte für Signale bis 6,6 GHz ermöglicht die schnellere Durchführung automatisierter RF-Tests als mit traditionellen Lösungen im Bereich der Großserienfertigung.“
Mit dem RF List Mode können Anwender die neuen PXI-Express-basierten VSG und VSA für Signale bis 6,6 GHz so konfigurieren, dass sie eine vorprogrammierte Liste von RF-Einstellungen wie Frequenz und Leistungspegel mit deterministischen Timing-Intervallen zügig abarbeiten. Der RF List Mode sorgt auch für genauere Leistungsmessungen, da er Anwendern die Optimierung des Bezugspegels für den Eingang des VSA NI PXIe-5663E erleichtert.
Im Modus mit hoher Schleifenbandbreite schwingen sich VSG und VSA erheblich schneller auf eine Mittenfrequenz ein als viele herkömmliche RF-Messgeräte. Sie erreichen typische Abstimmzeiten von 300 und 400 Mikrosekunden für Frequenzen zwischen 800 MHz und 1.950 MHz. Kürzere Einschwingzeiten ermöglichen dem Anwender, die Gesamtmesszeit bei automatisierten RF-Prüfanwendungen wesentlich zu verkürzen.
Die erweiterten PXI-Express-basierten RF-Messgeräte bis 6,6 GHz von NI bauen auf der softwaredefinierten NI-Prüfplattform auf, die Standard-PC-Technologien wie Multicore-Prozessoren und Anbindung an PCI Express integriert. Da modulare RF-Messgeräte auf Basis von NI PXI softwaredefiniert sind, ist der Anwender der grafischen Systemdesignsoftware NI LabVIEW in der Lage, Messalgorithmen für den Test zahlreicher Wireless-Geräte so zu definieren, dass eine Prüfung fünf- bis zehnmal schneller vonstattengeht als mit traditionellen RF-Messgeräten.
Weitere Informationen über die erweiterten PXI-Express-basierten modularen Messgeräte bis 6,6 GHz bietet die Website www.ni.com/rf/d/platform.
Quelle: National Instruments Germany GmbH
„Die neuen RF-Messgeräte zeigen unser Engagement, Testzeiten zu verkürzen und Prüfingenieuren damit Kosteneinsparungen zu ermöglichen“, so Eric Starkloff, Vice President of Test Product Marketing bei National Instruments. „Die optimierte Leistung der erweiterten RF-Messgeräte für Signale bis 6,6 GHz ermöglicht die schnellere Durchführung automatisierter RF-Tests als mit traditionellen Lösungen im Bereich der Großserienfertigung.“
Mit dem RF List Mode können Anwender die neuen PXI-Express-basierten VSG und VSA für Signale bis 6,6 GHz so konfigurieren, dass sie eine vorprogrammierte Liste von RF-Einstellungen wie Frequenz und Leistungspegel mit deterministischen Timing-Intervallen zügig abarbeiten. Der RF List Mode sorgt auch für genauere Leistungsmessungen, da er Anwendern die Optimierung des Bezugspegels für den Eingang des VSA NI PXIe-5663E erleichtert.
Im Modus mit hoher Schleifenbandbreite schwingen sich VSG und VSA erheblich schneller auf eine Mittenfrequenz ein als viele herkömmliche RF-Messgeräte. Sie erreichen typische Abstimmzeiten von 300 und 400 Mikrosekunden für Frequenzen zwischen 800 MHz und 1.950 MHz. Kürzere Einschwingzeiten ermöglichen dem Anwender, die Gesamtmesszeit bei automatisierten RF-Prüfanwendungen wesentlich zu verkürzen.
Die erweiterten PXI-Express-basierten RF-Messgeräte bis 6,6 GHz von NI bauen auf der softwaredefinierten NI-Prüfplattform auf, die Standard-PC-Technologien wie Multicore-Prozessoren und Anbindung an PCI Express integriert. Da modulare RF-Messgeräte auf Basis von NI PXI softwaredefiniert sind, ist der Anwender der grafischen Systemdesignsoftware NI LabVIEW in der Lage, Messalgorithmen für den Test zahlreicher Wireless-Geräte so zu definieren, dass eine Prüfung fünf- bis zehnmal schneller vonstattengeht als mit traditionellen RF-Messgeräten.
Weitere Informationen über die erweiterten PXI-Express-basierten modularen Messgeräte bis 6,6 GHz bietet die Website www.ni.com/rf/d/platform.
Quelle: National Instruments Germany GmbH
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